光ファイバー素線製造工程
光ファイバー製造工程とは、ファイバー素線を高精度かつ安定した品質で量産するための一連の加工・検査プロセスを指します。製造ラインや研究開発現場におけるファイバー評価に対応した測定器群をご紹介します。
光通信用途に限らず、センサ用ファイバー、医療用特殊ファイバー、産業用レーザー伝送ファイバーなど、多様な応用分野にも対応しています。また、PMF（偏波保持ファイバー）、HCP（空孔型ファイバー）、MCF（多心ファイバー） などの特殊構造ファイバーに対しても、構造特性や光学特性に応じた柔軟な測定ソリューションを提供可能です。
波長分散測定
CD500
- 波長分散（ Chromatic Dispersion ）
- 水素劣化（ Hydrogen Aging ）
- 減衰（ Attenuation ）/スペクトル減衰（ Spectral Attenuation ）
- 偏波モード分散（ Polarisation Mode Dispersion）
- ファイバ歪み（ Fiber Strain ）
- 曲げ損失（ Bending Loss ）
- デジタル化されたRF周波数信号で駆動する温度安定化ソリッドステートモノクロメータを搭載しており、ピコメートル単位の精度と安定性で波長を設定・維持できます。デジタル方式と最新のDSP技術を採用することで、CD500は低ノイズでドリフトのない測定結果を迅速に提供します。
偏波モード分散
PMD500
光ファイバーの偏波モード分散（PMD）を測定し、0.005 psから60 psの範囲をカバーする2つの測定方法を備えた測定器です。DGDのスキャンは最大200 psまで対応しています。
ひずみ測定
SPL500
光ファイバーの伸長と減衰を同時に測定し、ケーブルの機械的負荷による影響を評価する測定器です。さらに、ケーブルの延長、機械的負荷、環境温度などの情報も取得し、設置や運用時の物理的ストレスを監視することができます。
偏波モードフィールド径測定
MA500
偏光モードフィールド径(MFD)および実効断面積(Aeff)の測定システムです。
大きな有効面積や高NA単一モードファイバーの測定に対応する測定器です。ワイドアングルスキャナーを用いて、幅広いファイバータイプのMFDを測定できます。
大きな有効面積や高NA単一モードファイバーの測定に対応する測定器です。ワイドアングルスキャナーを用いて、幅広いファイバータイプのMFDを測定できます。
スペクトル減衰測定
SA500
- 減衰（ Attenuation ）/スペクトル減衰（ Spectral Attenuation ）
- 曲げ損失（ Bending Loss ）
- カットオフ波長（ Cut-off Wavelength ）
長尺のファイバーやケーブルの測定に対応し、最新のG657 A & Bファイバーや海底ケーブルに使用される高NAファイバーの測定にも適しています。
複合測定ワークステーション
WS500
- 減衰（ Attenuation ）/スペクトル減衰（ Spectral Attenuation ）
- 曲げ損失（ Bending Loss ）
- カットオフ波長（ Cut-off Wavelength ）
- モードフィールド径（ Mode Field Diameter ）
- 有効断面積（Aeff）
単一モードおよびマルチモードファイバー、コンポーネント、ケーブルの測定に対応し、コンパクトな設計で効率的に運用できます。
断面ジオメトリ
FG500
NPLトレーサブルな校正を採用し、精度と信頼性の高い測定が可能です。他の市場製品と異なり、最新の光学技術を活用して高解像度測定を実現し、ファイバー形状の詳細な評価が可能です。
ファイバカール測定
CURL500
デュアルビーム方式を採用し、機械的な影響を受けずに安定した測定が可能なシステムです。他の顕微鏡画像ベースの測定方法とは異なり、固定された2つのビームのうち1つを基準とすることで、回転やファイバー保持機構の影響を排除し、高い再現性と精度を実現します。
技術情報
