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DWDM広帯域光損失測定システム
顧客概要
国内の光コネクタ加工メーカー様。
主に光ファイバ端末加工やDWDM関連の受動部品（カプラ、WDMデバイス等）の製造・開発を展開。
導入前の課題
- 新規生産ラインの立ち上げに伴い、高精度かつ即時導入可能な測定システムを検討
- 汎用の単体光測定機では仕様・柔軟性ともに不十分
- 自社開発のノウハウがなく、トライ＆エラーによる時間損失を避けたい
- 測定結果は、既に運用している生産テンプレートに自動反映させたい
- 生産スケジュールがタイトなため、できるだけ早期にシステムを構築・運用開始したい
導入内容
以下の機器を組み合わせたDWDM対応・広帯域光損失測定の自動化システムを導入：
- TSL-570（波長可変レーザ光源）× 2台
- OSX-100（光切替ユニット）
- OPM-200（光パワーメータ）
- スプリッタパネル
- LANスイッチ
- 制御PC
- 専用測定ソフトウェア（テンプレート連携対応）
選定ポイント
- 複数波長帯（TSL-570 ×2）をカバーし、広帯域DWDM測定に対応
- 測定波長の切替・記録をソフトウェアから完全自動制御
- 既存テンプレートに測定結果をダイレクトに反映可能な出力形式をサポート
- ハードウェア操作が不要で、誰でも操作できるGUIと測定フロー
- 測定システム全体が一括で納入・調整され、即座に運用開始が可能
システム構成
TSL-570（光源 A）──┐
├→ OSX-100 ─→ DUT（被測定デバイス）─→ OPM-200 → LAN → PC
TSL-570（光源 B）──┘
▼補足：
- スプリッタパネルを介して同一系統でOPM入力へ接続
- 測定ソフトウェアにて、波長制御・測定実行・データ記録を一括管理
- 2台のTSLはそれぞれ異なる波長帯を担当し、広帯域掃引を実現
導入効果
- 導入当日から即稼働が可能となり、生産スケジュールに余裕が生まれた
- 測定手順の自動化により、作業者の教育・習熟が不要に
- 自社テンプレートへの即時出力により、レポート作成工程が完全に省力化
- トライ＆エラー工程の回避により、開発時間と品質リスクを最小化
- 市販機単体では実現できなかった要求仕様を、フルカスタマイズでクリア
