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CW一括測定システム

CW一括測定システム

多心・多波長の反射および挿入損失を全心一括で測定できる装置です。多心デバイスの全チャンネルを同時に測定可能で、損失変動のモニタリングにも対応しています。

システムは、安定化光源、光スプリッタ、マルチチャンネル光パワーメータおよび制御ソフトウエア搭載ノートPCから構成されており、光スイッチではなく光スプリッタを採用することで、チャンネル切替によるタイムロスなく、全チャンネルを同時測定可能です。

基本的なハードウエア構成は共通のまま、ソフトウエアを変えることで、信頼性評価のための環境試験・機械試験や、多心コネクタの調心測定など、多様な試験・測定ニーズに対応可能です。

また、シングルモードファイバ・マルチモードファイバに加え、MPOコネクタ、マルチコアファイバ、プラスチックファイバなどの測定にも対応しており、品質管理や研究開発の現場で幅広くご活用いただけます。

測定結果は、多心・多波長の光反射・挿入損失に加えて、温度・測定時間・経過時間などのデータを一つのファイルにまとめて保存でき、測定結果の管理・分析が容易に行えます。


  • 光スイッチ経由のない構成による高い安定性。
  • 柔軟なカスタマイズが可能。
  • 日本語ソフトウェア制御による簡単操作。
  • オプション:恒温槽の温湿度取得可能。
  • オプション:実験用温度計の温湿度取得可能。
  • オプション:キャリーケース可搬型仕様により移動可能。

機能・特長

 

リアルタイムで一括測定

機械的にチャンネルを切り替える光スイッチは使用せず多チャンネル光パワーメータと光スプリッタを採用することで、全チャンネルの一括測定が可能な構成です。物理的にチャンネルを切り替えることがないので理論寿命が長いです。

 

反射測定方式OCWR

測定項目にRLが含まれる場合、RLは連続光を用いて反射を測定するOCWR方式で測定しています。

 

柔軟なチャンネル拡張構成

マルチチャンネル光パワーメータのチャンネル数を変更することで、受光部を2~72チャンネルまで拡張可能です。

 

温度計の温湿度測定
※オプション

温度計を使用することでセンサ部を自由に設置することができます。センサの種類はご希望の温度範囲に合わせて、提案致します。

 

恒温槽の温湿度測定
※オプション

恒温槽内に設置される測定対象物を測定する時に温湿度変動のデータを取得することは不可欠です。ESPEC社の恒温槽である場合はETHERNET経由で恒温槽内の温湿度をリアルタイムで取得することはできます。

可搬型・防塵仕様のラックケース
※オプション

オプションでキャスター付きキャビネットと防塵カバーを選択可能です。
システム全体を安全に移動でき、使用しない期間も保護・保管が容易です。

アプリケーション

品質保証・研究開発

環境試験

光ファイバ製品や光部品の長期信頼性評価・環境耐久試験を行うための測定ソフトウェアです。恒温槽や温湿度計との連携にも対応しており、温度・湿度・光学特性を同時に取得し、試験環境下での挿入損失(IL)・反射減衰量(RL)の変化を一元的に解析できます。

品質保証・研究開発

機械試験

光ファイバ製品の機械試験・ストレス試験を行うための測定ソフトウエアです。高速サンプリングモードでは、測定サンプル周期を100mSecから設定でき、スパイクや瞬断などの瞬間的な損失変動を捉えることができます。ピーク値や変動値、変動時間などのデータを取得できます。

生産ライン

調心測定

量産工程での多心光コネクタ・ファイバアレイの検査に対応する測定ソフトウェアです。各チャンネルのリアルタイム損失値が瞬時にバーグラフで表示され、作業者が適切なタイミングを見て測定値の決定ボタンを押せます。測定ごとにあらかじめ設定した判定値に基づき合否判定を行います。

仕様

 品番 CWSYS-S9-8-1315 CWSYS-S9-12-1315 CWSYS-M5-12-8513 CWSYS-M5-24-8513
対象ファイバ 9/125μm SMF GI50/125
心数※1 8 12 12 24
 測定波長(nm)  1310, 1550  850、1300
ILダイナミックレンジ(dB)  0-72 0-70  0-55 0-51
RLダイナミックレンジ(dB)※2 14-67 14-65 14-45dB
光源出力(dBm)  +10 -16
光源種類 レーザ LED
光源出力安定性(dB) ±0.02
光源ポート数※2 1 3 6
IL変動量安定性(dB)※3 ±0.03dB -
RL変動量安定性(dB)※3 ±3.50dB -
測定時間(ms)※4 12.5
絶対確度(dB)※5  ± 0.25
測定直線性(dB)※6,7  ± 0.02(< 10dB)
 ± 0.05(> 10dB)
パワー分解能(dB)  0.001
最大サンプリング周波数(Hz) 10
システム外寸(mm) 520X500X331 600X520X420
挿入損失JIS JIS C5961-7.1.挿入法
反射減衰量JIS JIS C5961-7.2.カプラ法
OS Windows 11 Pro、Windows 11
標準付属品 パソコン、ソフトウェア、パッチコード、測定システム、中継アダプタ、マイクロソフトOffice
※1 表記以外の心数でも対応可能。
※2 光源出力とポート数によって測定レンジが変わります。
※3 測定環境の温度変化は±1℃、24時間、リファレンスチャンネル補正機能あり。
※4:1波長、全チャンネルの一括測定において。
※5:NIST基準による波長校正において。
※6:InGaAs 検出器での測定値: 1490nm で 1mm は 3 ~ -65 dBm、3mm は 0 ~ -65 dBm、5mm は 0 ~ -55 dBm、10mm は 0 ~ -45 dBm
※7: Silicon検出器での測定値: 980 nm で3mmは 0 ~ -55 dBm 

ラインナップ

型番 ファイバ種 測定項目 チャンネル数 検出器タイプ コネクタの種類 コネクタの研磨 ソフトウェア 温度計
(オプション)
恒温槽取得機能
(オプション)
可搬仕様
(オプション)
CWSYS- S9:9μm SMF

M5:50μm GI MMF

M6:62.5μm GI MMF
IL:挿入損失

ILRL:挿入損失と反射減衰量
02:2検出器

04:4検出器

06:6検出器

08:8検出器


10:10検出器

12:12検出器

16:16検出器

24:24検出器

32:32検出器

48:48検出器

68:68検出器

72:72検出器
IN1:1mm InGaAs

SI3:3mm Silicon

SC:SC

LC:LC
PC:球面研磨

APC:斜め研磨

EV:環境試験

MC:機械試験

CT:調心測定

TM:付き

空欄:なし
IB:付き

空欄:なし
PT:付き

空欄:なし
※チャンネル数はカスタマイズ可能です。

導入までの流れ

01

お問い合わせ
お見積依頼

お問い合わせフォームもしくはお電話で受け付けしております。ぜひご相談ください。

02

製品お見積のご案内

お客様のご要望に合わせて、当社で取り扱っている製品情報およびお見積のご案内をいたします。

03

デモンストレーションの実施

実機を使用したデモンストレーション、またはデモ機の貸出しを通じて、提案内容に基づく運用の確認を行っていただけます。

04

ご注文

ご注文書をメールまたはFAXにてお送りください。

05

請求・お支払い

担当者より請求書をメール送信致します。注文内容に間違いがないかご確認いただき、お支払い手続きをお願い致します。ご入金を確認後手配を進めます。

06

納期連絡・発送

納期が分かり次第ご連絡致します。納品まで2か月~3か月程度かかる可能性があります。

07

製品のお届け

万が一、お届けした製品に欠陥があった場合やご注文内容と異なっていた場合には、製品到着後恐れ入りますが7日以内にご連絡ください。

08

導入

設備の設置作業から操作説明に至るまで、責任を持って全面的にサポートいたします。必要に応じて、専門的な操作トレーニングもご提供し、迅速に運用に慣れていただけるよう努めます。

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導入事例

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