ファイバN.A/Encircled Flux測定器(OP1021シリーズ)

NFP/FFP測定により、光ファイバのNAやEncircledFluxを測定

用途

  • 各種光ファイバのNA測定に。
  • GIマルチモードファイバの励振状態を定義するEncircled Flux測定に。IEC61280-1-4に準拠した測定方法。
  • 光ファイバのニアフィールド・ファーフィールド測定に。

構成

  • 測定器本体・・・ニアフィールドスキャナ・ファーフィールドスキャナ・850nm/1310nmLED光源
  • 制御ソフト・・・OPL-LCAソフトウェア for Windows

ニアフィールドの測定原理           ファーフィールドの測定原理

 

ニアフィールドスキャン・・・ファイバ端から入射された光は対物レンズを経由し、光の濃淡を均一に広げます。ピンホールされた受光部は走査しながら光強度をスキャンし、モードフィールド径やEncircledFluxを測定します。

ファーフィールドスキャン・・・ファイバ端から広がった光を受光部が弧を描きながら走査します。受光部には100umコアのファイバが装着され、-0.5から+0.5ラジアンの範囲でNAを測定します。